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        如何將X熒光光譜儀應用在涂鍍層分析中?
        發布時間:2022-11-04 點擊:109

        現代科技的迅速發展,也促進了X熒光光譜儀的提升和進步。X熒光光譜儀運用到的X射線熒光法,一直是元素分析的重要方法。它可以應用在樣品涂鍍層厚度及成分分析,而且十分受生產廠家的喜愛。今天就跟著創想小編來了解一下吧。

        1.貴金屬、珠寶首飾:黃金分析,貴金屬合金分析,珠寶鍍層分析,鉑金上的銠鍍層分析;

        2.鋼鐵、五金電鍍:鋼材鍍鋅/鉻、鋁材鍍鋯/鈦、哈式合金鍍層厚度測定;

        3.裝飾材料:裝飾涂層分析

        4.電子電器:PCB印刷電路板,金手指及連接器上Au/Ni/Cu、Au/Pd/Ni/Cu厚度分析、可焊性能分析如Ag/Cu/Epoxy,RoHS指令合規檢查;

        5.新能源/鋰電:電池薄膜吸收層(如CIS, CIGS, CdTe)的成份分析,通過鍍層厚度分析優化導電性能;

        6.微電子、半導體:貼片電子元器件、太陽能電池、焊點、高精度感應芯片、柔性線路板、磁性介質的成分檢測和RoHS指令合規檢查;

        7.防腐涂層:涂層厚度及組分分析;

        以上就是小編給大家整理的全部內容,希望對大家有幫助。

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